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消费级封装

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消费级封装

迪研半导体自建近5,000平快速封装工程中心和1.5万平SiP先进封测基地,为客户提供快封打样/SiP&FCBGA设计生产/量产管理服务。在产品研发阶段提供优质高效的快封服务;同时拥有经验丰富的方案开发和SiP&FCBGA设计团队,为客户提供SiP&FCBGA产品从设计、仿真、打样到量产一站式交付;结合国内外主流封装厂的长期战略合作关系,为客户提供全流程的量产管理服务,在封装阶段的交期、产能及质量提供有效保障。

迪研半导体累积10多年来的解决方案,协助您抓出失效点快又准


  • 客退品分析

  • 产品瑕疵检测

  • 可靠性分析后之失效模式分析

  • C/P, F/T, PCBA 后失效样品分析

  • 提供客制化及专业技术整合服务

  • 第三方公正报告


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服务特色

一站到位 (One-Stop) 服务

电性检测

Electrical Verification

1
非破坏分析

Non-destructive Inspection

2
样品前处理

Sample Preparation

3
热点测试

Failure Site Localization

4
物性分析

Physical Analysis

5

其他服务

竞争力分析

Competitiveness Analysis

服务项目

电性检测
半导体组件参数分析
IV电特性量测 (IV Curve)
点针信号量测 (Probe)
非破坏分析
超高分辨率数字显微镜 (3D OM)
超声波扫瞄 (SAT检测)
X射线检测 (2D X-ray)
超高分辨率 3D X-Ray 显微镜
样品前处理
芯片开盖去胶 (Decap)
晶背研磨(Backside)
热点测试
砷化镓铟微光显微镜 (InGaAs)
激光束电阻异常侦测 (OBIRCH)
Thermal EMMI (InSb)
物性分析
芯片去层 (Delayer)
PCB 去层(Delayer)
传统剖面 (Cross-section)
离子束剖面研磨 (CP)
竞争力分析
芯片结构/成本分析

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